北京高光科技有限公司

薄膜厚度测量仪（F20）

产品名称：F20薄膜厚度测量仪 　　 　　产品简介： 　　F20是我们的通用台式仪器。薄膜厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们的台式仪器一样，F20需要连接到您装有Windows计算机的U端口上并在数分... ...

偏光计

产品简介： 　　GASP表面应力仪是一款便携式仪器，主要用于检测钢化玻璃、半钢化玻璃的表面应力，同时也可用于检测应力较低的退火玻璃的表面应力，从而优化玻璃生产过程中的炉火设置。 　　 　　产品特性： 　　... ...

高分辨率激光光束质量分析仪

NanoScan光束质量分析仪在保持BeamScan易用性和灵的基础上了产品的主要性能，对紫外到远红外光谱范围内的连续光和脉冲光均可进行测试，探测功率可达千瓦级。 　　 　　NanoScan光束分析仪基于PCI结构的数... ...

偏光计（PS-100）

PS-100偏光计系统具有多种型号： 　　 　　PS-100-SF标准偏光应力仪： 　　桌面型检测系统，具有190×190mm视场，包括一个圆／线偏振光源和分析仪。可以测量延迟、双折射、应力等。 　　 　　PS-100-VI... ...

NanoScan近场分析仪

对于激光二管、VCSELs、光纤或光波导的近场测量是很困难的。要对于这些小型光源的测量需要高的光学和机械设计。为了满足这些要求，我们就很宽的波长和功率范围设计了多种型号的近场分析仪。通过... ...

实时M2测量仪

ModeScan Model 1780是一款视频20Hz以上实时测量M2及ISO 11146相关即时参数的光束分析仪器，在Model 2512 CCD阵列相机上用10个反射面在传播光束的10个位置同时成像。因为10个测量点是获得，所以它不但可... ...

全自动边缘应力测量仪（P-100）

产品名称：全自动边缘应力测量系统　　 　　产品简介：全自动边缘应力测量系统利用该公司的-无破坏性应力测量技术，结合友好的基于计算机的软件界面，提供了快速、和可重复剩余应力测量。测量过程全自动... ...

薄膜厚度测量仪（F20-UV）

产品名称：F20-UV便携式膜厚测量系统。 　　产品简介：是F20系列下的一个型号，用来测量比较薄的薄膜。波长范围：220nm至1100nm.薄膜厚度的测量范围是：3nm～50um，为0.1nm. 　　 　　产品特性： 　　1、操... ...